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產(chǎn)品分類 PRODUCT CENTER
特點(diǎn)
- 100MHz FPGA時(shí)序電路設(shè)計(jì) - 1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素屏幕,25Hz刷新頻率 - 手動(dòng)或自動(dòng)增益控制,根據(jù)測(cè)量模式選擇(50dB增益范圍) - 內(nèi)置于探頭類型中的線性時(shí)間相關(guān)增益(TDG) - B-掃描和大數(shù)字顯示方式 - 脈沖-回波(P-E)測(cè)量模式和回波-回波(E-E)測(cè)量模式 - 雙晶探頭 - 內(nèi)置4GB SD卡 - 通過(guò)USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量
脈沖-回波(P-E)模式測(cè)量范圍:0.63mm~30.48m(鋼) 回波-回波(E-E)模式測(cè)量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過(guò)涂層測(cè)量,隨涂層厚度的不同,測(cè)量范圍也會(huì)變化) 分辨率:0.01mm 聲速范圍:309.88~18542m/s 單位:公制或英制 校準(zhǔn):一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)方式
顯示
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素??梢晠^(qū)62x45.7mm,EL背光 大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm B-掃描方式:基于時(shí)間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數(shù) 厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見(jiàn) 穩(wěn)定度指示:表示測(cè)量值的穩(wěn)定性
超聲波參數(shù)
測(cè)量模式:脈沖-回波(P-E)模式,回波-回波(E-E)模式(穿過(guò)涂層) 脈沖:150V方波脈沖發(fā)生器 接收:根據(jù)選擇模式在50dB范圍內(nèi)采用手動(dòng)或AGC增益控制 計(jì)時(shí):?jiǎn)未?/span>100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的**TCXO計(jì)時(shí)
探頭
頻率范圍:1~10MHz 雙晶探頭 LEMO接口,1.2米探頭線 可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲(chǔ)
容量:內(nèi)置4GB SD卡 數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字) 屏幕捕獲:位圖圖形捕獲,用于快速記錄 數(shù)據(jù)輸出:通過(guò)USB Type-C連接的計(jì)算機(jī)
功能
設(shè)置:64個(gè)用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置 探頭類型可選:內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度 報(bào)警模式:上下限視聽(tīng)報(bào)警 快速掃描模式:每秒250個(gè)讀數(shù),當(dāng)探頭離開(kāi)時(shí)顯示*小值
其他
鍵盤(pán):12個(gè)觸摸鍵 電源:標(biāo)配為三節(jié)5號(hào)堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無(wú)操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。USB Type-C供電 外殼:擠壓鋁機(jī)殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝 工作溫度:-10~60℃ 尺寸:63.5x165x31.5mm 重量:含電池385g 包裝:ABS工程塑料箱 出廠證書(shū):工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD- 45662A標(biāo)準(zhǔn)
常用探頭
型號(hào)
頻率
探頭晶片直徑
探頭防磨面直徑
測(cè)量范圍
說(shuō)明
PT-102-2700
5.0MHz
6.35mm
9.53mm
1.0~152mm
標(biāo)準(zhǔn)高阻抗探頭
PT-101-2700
4.76mm
1.0~50mm
小管徑高阻抗探頭
PT-101-2000
小管徑探頭
PT-104-0000
1.0MHz
12.7mm
15.88mm
3.8~50.8mm(鑄鐵中)
鑄鐵探頭
PT-104-9700
3.5MHz
2.5~100mm 穿透測(cè)量3.2~100mm 涂層厚度*大可達(dá)1.9mm
大范圍高阻抗探頭
PT-102-3300
7.5MHz
0.63~152mm
超薄探頭
PT-104-2700
1.27~508mm
超厚高阻抗探頭
PT-104-2000
超厚探頭
PT-042-2700
標(biāo)準(zhǔn)高溫高阻抗探頭,*高340℃
PT-042-2000
標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭,*高340℃
PT-044-2700
超厚高溫高阻抗探頭,*高340℃
PT-044-2000
超厚高溫探頭,*高340℃
PT-212-2001
超高溫探頭,*高480℃
PT-214-2001
超厚超高溫探頭,*高480℃
注:
測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑 在穿透模式下,高阻抗探頭會(huì)有更好的表現(xiàn)
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